來(lái)自飛納桌面電鏡的 Phenom XL G2，可自動(dòng)進(jìn)行質(zhì)量控制，并提供準(zhǔn)確、可重復(fù)的檢測(cè)結(jié)果，讓您騰出時(shí)間進(jìn)行其他更有價(jià)值的工作。

對(duì)高分辨率成像來(lái)說(shuō)， 桌面掃描電鏡 Phenom Pure 是經(jīng)濟(jì)節(jié)約型的產(chǎn)品，與同類(lèi)產(chǎn)品相比，它能提供更佳的成像效果。

秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、*防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡 Phenom Pharos G2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，使用戶(hù)可以輕松獲得高分辨率圖像，且低電壓性能優(yōu)異。

使用飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺(tái)式電鏡粒度分析測(cè)量系統(tǒng)支持用戶(hù)收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。

加快材料研究的突破性進(jìn)展，您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 臺(tái)式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升級(jí)，易于操作，元素分析更快速。【臺(tái)式掃描電鏡多少錢(qián)】